a) 부하 전류의 급격한 변화는 제한된 제어 루프 속도로 인해 출력 전압의 변화를 일으킵니다. 때로는 내부 조정 루프가 급격한 전류 변화에 응답하지 못하여(시간 지연으로 인해) 일반적으로 수십 mV 정도의 언더슈트/오버슈트가 발생합니다.
b) 입력 전압의 급격한 변화(일반적으로 DC-DC 컨버터의 출력 전압 리플로 인해 발생)는 제어 루프에서 완전히 필터링할 수 없으므로 입력 전압의 변화가 출력 전압에 어느 정도 반영됩니다. , 이 매개변수는 PSRR(Power Supply Rejection Ratio)이라고 하며 일반적으로 주파수 종속 매개변수입니다. 일부 제조업체는 PSRR을 음수로 표시하고 일부는 양수로 표시합니다. 일반적으로 PSRR의 절대값이 높을수록 입력에서 출력으로 전송되는 간섭 신호가 적습니다. 일반적으로 교란된 입력 전압은 mV 이하의 단위 레벨에서 출력으로 전달됩니다. 마찬가지로 입력 전압의 급격한 변화(예: "라인 과도 응답")가 LDO 출력에서 발생할 수 있습니다.
c) 반도체 구조 자체는 기본 물질의 결정 구조와 충돌하는 자유 원자에 의해 주로 발생하는 고유한 노이즈를 생성합니다. 고유 노이즈는 전류 전도 원리와 관련된 반도체의 물리적 현상이므로 일부 기술로 억제할 수 있지만 완전히 제거하는 것은 불가능합니다. 최신 LDO의 출력 잡음은 수백 마이크로볼트(uV) 이하일 수 있지만 상위 LDO는 마이크로볼트(uV) 단위로 잡음을 생성합니다.
d) 기타 영향으로는 입력 전압의 느린 변화와 라인 레귤레이션에 미치는 영향, 부하 전류의 느린 변화와 부하 레귤레이션에 미치는 영향, 열 전도성 및 장기 안정성이 있습니다.
현실 세계에서 안정적이고 정확한 출력 전압을 달성하려면 이러한 모든 효과와 그 효과를 함께 고려해야 합니다. 따라서 위의 상황이 특정 응용 프로그램과 관련이 있을 수 있음을 신중하게 고려할 필요가 있습니다. 예를 들어, 최고의 이미지 품질이 필요한 카메라 애플리케이션의 경우 현재 변경 사항을 로드하기 위한 LDO의 동적 응답이 가장 중요합니다. 노이즈 값이 100uVrms 미만이고 PSRR 값이 정상(50dB 이상)인 경우 이미지 품질에 미치는 영향은 미미합니다.
