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현미경 연구에서 재료의 특성에 주의를 기울여야 합니다.

Feb 07, 2023

현미경 연구에서 재료의 특성에 주의를 기울여야 합니다.

 

(1) 재료 미세 구조의 다중 스케일: 올림푸스 현미경 원자 및 분자 수준, 전위와 같은 결정 결함 수준, 입자 미세 구조 수준, 메조 구조 수준, 매크로 구조 수준 등;


(2) 재료 미세 구조의 불균일성: 실제 미세 구조는 종종 기하학에서 불균일성, 화학 조성에서 불균질성, 미시적 특성(예: 미세 경도, 국소 전기화학적 전위) 성별에서 불균일성 등을 가지고 있습니다.


(3) 재료 미세조직의 방향성 : 결정립 형태의 이방성, 저배율 구조의 방향성, 결정학적 방향성, 재료의 거시적 성질의 방향성 등을 포함하여 분석해야 한다. 따로따로 분석했습니다. 대표;


(4) 재료 미세구조의 가변성: 상전이 및 미세구조 진화를 유발하는 화학적 조성, 외부 요인 및 시간 변화의 변화는 재료의 미세구조 변화를 초래할 수 있습니다. 정량적 분석 외에도 고체 상전이 과정, 미세구조 진화 동역학 및 진화 메커니즘에 대한 연구가 필요한지 여부에 주의를 기울여야 합니다.


(5) 재료 미세구조의 가능한 프랙탈 특성 및 특정 금속학적 관찰에 존재할 수 있는 해상도 종속 특성: 미세구조의 정량 분석 ​​결과가 이미지 해상도에 크게 의존할 수 있습니다. 조직 형태의 정량 분석 ​​및 미세 구조 디지털 이미지 파일의 저장 및 처리 시 이에 더 많은 주의를 기울여야 합니다.


(6) 재료의 미세구조에 대한 비정량적 연구의 한계: 미세구조에 대한 정성적 연구는 재료공학의 요구를 충족시킬 수 있지만, 재료과학의 분석 및 연구는 항상 미세구조의 기하학을 정량화해야 한다. 얻어진 정량분석결과의 판단 및 오류분석(무작위오차, 계통오차, 총오차)


(7) 재료 미세조직 단면이나 투사관찰 등의 한계 주철 편상 흑연과 펄라이트의 3차원 구조의 깊은 침식을 관찰한 결과 이러한 한계는 단면이나 투사된 이미지의 오해로 쉽게 이어질 수 있음을 보여주었다. .


단면 이미지(예: 광학 금속조직 및 SEM 이미지)와 프로젝션 이미지(예: TEM 이미지)에 서로 다른 입체 원리 및 관계를 사용해야 하며 프로젝션 이미지의 입체 분석이 훨씬 더 어렵다는 점에 유의해야 합니다[ 2 ].


(6) 및 (7)의 제한에 대해, 딥 에칭, 입자 또는 2차 상 분리, 방사선 촬영, 스테레오 비전, 공초점 현미경, 원자력 현미경, 전계 이온 현미경, 마이크로 CT 및 관련 기술, 3차원 조직의 재건 일련의 단면 이미지 및 기타 방법의 구조는 재료의 3차원 미세 구조를 직접 이미징하고 실험적으로 관찰하는 데 사용되었습니다. 그러나 대부분은 매우 특수한 경우에만 적합하거나 작업량이 크거나 샘플 표면만 이미지화하고 관찰할 수 있습니다. 그 중 산업용 마이크로 CT 기술은 재료 내부의 밀도차가 분명한 대형 결함의 비파괴 검사에 매우 효과적이며 새로운 연구 개발 방향이 될 수 있지만 미세 구조 관찰을 위한 분해능은 재료의 수는 볼 수 있습니다. 증가했습니다(현재 최고 해상도는 미크론 수준임). 일련의 단면 금속 조직 이미지를 실험적으로 얻을 수 있는 경우 3D 재구성 및 컴퓨터 시뮬레이션 기술은 3D 직접 관찰에 매우 유용합니다. 또한 직접 관찰이 항상 직접 측정을 의미하는 것은 아닙니다. 물질 조직의 3차원 시각화를 실현할 수 없거나 시각화했지만 정량적 특성 데이터를 얻을 수 없는 경우, 입체 분석은 3차원 조직 구조의 편향되지 않은 정량적 측정을 얻을 수 있습니다. 작은 비용. 따라서 정량 분석 ​​및 미세 구조의 특성화를 위한 필수적인 도구가 되었습니다.


재료 미세구조의 이미지 획득, 저장 및 전송을 위한 새로운 방법의 지속적인 출현 및 개선, 더 나은 이미지 처리 및 분석 방법, 입체 원리 및 실험 기술의 지속적인 개발 및 대중화, 컴퓨터 하드웨어의 급속한 발전 및 소프트웨어 기능 둘 다 2차원 관찰에서 3차원 기하학적 형상 정보 테스트에 이르기까지 정성적 특성화에서 정량적 특성화에 이르기까지 재료 미세 구조 형태의 개발 및 적용을 위한 드문 기회를 제공합니다. 실험 방법의 높은 수준의 자동화와 많은 양의 미세 구조 정량 데이터의 용이한 획득은 또한 일부 고급 이미지 분석 실험 방법의 오용 또는 불필요한 사용 가능성을 높였으며 이는 높은 평가를 받을 수 밖에 없습니다.

 

2 Electronic Microscope

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