스캐닝 프로브 현미경 기능의 간단한 도입
스캐닝 프로브 현미경 (SPM)은 터널링 현미경을 주사하는 일반적인 용어이며 스캐닝 터널링 현미경 (예 : 원자력 현미경 (AFM), 레이저 힘 현미경 (LFM), 자기 힘 현미경 (MFM) 등을 기준으로 개발 된 다양한 새로운 프로브 현미경입니다. 최근 몇 년 동안 국제적으로 개발 된 표면 분석 기기입니다. 광전자 기술, 레이저 기술, 약한 신호 감지 기술, 정밀 기계 설계 및 처리, 자동 제어 기술, 디지털 신호 처리 기술, 응용 광학 기술, 고속 컴퓨터 획득 및 제어 및 고해상도 그래픽 기술과 같은 현대적인 과학 및 기술 성과를 포괄적으로 적용하여 조명, 기계 및 전기를 통합하는 첨단 제품입니다. 이 새로운 유형의 현미경 도구는 이전 현미경 및 분석 기기와 비교하여 중요한 장점을 가지고 있습니다.
1. SPM의 해상도는 매우 높습니다. 일반 현미경이나 전자 현미경이 달성하기 어려운 원자를 쉽게 볼 수 있습니다.
2. SPM은 원자를 진정으로 나타내는 샘플 표면의 실시간 고해상도 이미지를 얻습니다. 간접 또는 계산 방법을 통해 샘플의 표면 구조를 계산하는 일부 분석 기기와 달리.
3. SPM의 사용 환경은 완화됩니다. 전자 현미경 및 기타 기기에는 작업 환경에 대한 엄격한 요구 사항이 있으며 샘플은 테스트를 위해 높은 진공 조건 하에서 배치해야합니다. SPM은 진공 및 대기, 저온, 실내 온도, 고온 및 용액에서도 작동 할 수 있습니다. 따라서 SPM은 다양한 작업 환경에서 과학적 실험에 적합합니다.
