스캐닝 프로브 현미경의 특징
주사탐침현미경은 전계이온현미경과 고해상도 투과전자현미경에 이어 원자규모로 물질의 구조를 관찰하는 세 번째 현미경이다. 주사 터널링 현미경(STM)을 예로 들면 측면 해상도는 0.1~0.2nm이고 수직 깊이 해상도는 0.01nm입니다. 이러한 해상도는 샘플 표면에 분포된 단일 원자 또는 분자를 명확하게 관찰할 수 있습니다. 동시에 스캐닝 프로브 현미경은 공기, 기타 기체 또는 액체 환경에서 관찰 연구를 수행할 수도 있습니다.
스캐닝 프로브 현미경은 원자 분해능, 원자 수송 및 나노 마이크로 프로세싱의 특성을 가지고 있습니다. 그러나 다양한 주사현미경의 세부적인 작동 원리가 다르기 때문에, 이들에 의해 얻어진 결과가 반영하는 시료 표면의 정보는 매우 다르다. 주사 터널링 현미경은 원자 수준의 분해능을 갖지만 여전히 샘플의 실제 구조를 얻을 수 없는 샘플 표면의 전자 스테이션 분포 정보를 측정합니다. 원자현미경은 원자간 상호작용 정보를 감지하므로 시료 표면의 원자 분포 배열 정보, 즉 시료의 실제 구조를 얻을 수 있다. 그러나 반면에 원자력현미경은 이론과 비교할 수 있는 전자 상태 정보를 측정할 수 없기 때문에 둘은 나름의 장단점이 있다.
