공초점 현미경이 3차원 이미징을 생성하는 방법
공초점 현미경은 고해상도 및 3차원 이미징 기능을 제공하는 중요한 현미경 기술이며 재료 과학과 같은 분야에서 매우 중요합니다.
3D 이미징의 원리
LED 광원에서 방출된 광선은 다공 디스크와 대물렌즈를 통과한 후 시료 표면에 집중됩니다. 그 후, 빔은 샘플 표면을 통해 측정 시스템으로 다시 반사됩니다. MPD의 핀홀을 다시 통과할 때 반사된 빛은 초점이 맞춰진 빛 지점만 유지합니다. 마지막으로, 빛의 광선은 스플리터에 의해 반사되어 카메라에 이미지화됩니다. 샘플을 스캔하면 다양한 깊이의 이미지 정보를 얻을 수 있습니다.
공초점 현미경은 고해상도 및 3차원 이미징 기능을 제공할 수 있습니다. 재료 생산 분야에서는 표면의 물리적 형태를 측정하고 3D 표면 형태, 2D 깊이 형태, 윤곽(깊이, 너비, 곡률, 각도), 표면 거칠기 등 마이크로 나노 규모의 3차원 형태 분석을 수행할 수 있습니다.
동일한 대물렌즈 배율 조건에서 공초점 현미경은 더 높은 측면 해상도와 함께 더 선명하고 미세한 이미지 형태의 세부 정보를 표시합니다. 마이크로 및 나노 수준의 거친 윤곽선 감지에 능숙하며, 쉽게 관찰할 수 있도록 다채로운 트루 컬러 이미지를 제공할 수 있습니다.
공초점 현미경의 역할
공초점현미경은 다양한 정밀 기기 및 재료 표면의 마이크로 및 나노 레벨 측정에 사용되는 검출 장비입니다. 공초점 기술을 원리로 하고 정밀 Z축 스캐닝 모듈, 3D 모델링 알고리즘 등을 결합하여 장치 표면에 비접촉 스캐닝을 수행하고 표면 3D 이미지를 구축하는 광학 검출 장비입니다. 장치 표면의 3D 이미지를 시스템 소프트웨어를 통해 처리 및 분석하고, 장치 표면 품질을 반영하는 2D 및 3D 매개변수를 획득하여 장치 표면 형태의 3D 측정을 수행합니다.
