디지털 멀티미터로 일반 커패시터의 품질을 평가하는 방법
1. 10pF 이하의 작은 커패시터 감지: 10pF 이하의 고정 커패시터는 용량이 작기 때문에 멀티미터로 측정하면 누출, 내부 단락 또는 고장 여부만 정성적으로 확인할 수 있습니다.
측정 시 멀티미터 R × 10k 기어를 사용할 수 있으며 두 개의 프로브를 사용하여 커패시터의 두 핀을 연결할 수 있으며 저항 값은 무한해야 합니다. 측정된 저항값(오른쪽으로 흔들리는 포인터)이 0이면 누설 또는 내부 고장으로 인해 커패시터가 손상되었음을 나타냅니다.
2. 10PF~001 μ 고정 커패시터 F 감지: 충전 현상이 있는지 확인하고 품질을 확인합니다. 멀티미터 선택 R × 1k 기어. 트랜지스터 2개 값은 모두 100 이상이고 침투 전류가 작아야 합니다. 복합 튜브는 3DG6과 같은 모델의 실리콘 삼극관으로 구성될 수 있습니다.
멀티미터의 빨간색과 검은색 프로브는 각각 복합 튜브의 이미터 e와 컬렉터 c에 연결됩니다. 복합 트랜지스터의 증폭 효과로 인해 측정된 커패시터의 충전 및 방전 과정이 증폭되어 멀티미터 포인터의 스윙이 증가하고 관찰이 용이해집니다.
테스트 작업 중, 특히 용량이 작은 커패시터를 측정할 때 멀티미터 포인터의 진동을 명확하게 확인하려면 테스트한 커패시터 핀을 접점 A와 B로 반복적으로 전환해야 합니다.
001 μ F 이상의 고정 커패시터는 멀티미터의 R 값을 사용하여 측정 가능 × 10k 기어에서 충전 프로세스 및 내부 단락 또는 누출을 위한 커패시터를 직접 테스트하고 포인터 스윙의 진폭을 기반으로 커패시터의 용량을 추정합니다. 오른쪽으로.
추가 정보:
오류 처리:
1. 10pF 이하의 작은 커패시터 감지: 10pF 이하의 고정 커패시터는 용량이 작기 때문에 멀티미터로 측정하면 누출, 내부 단락 또는 고장 여부만 정성적으로 확인할 수 있습니다.
측정 시 멀티미터 R × 10k 기어를 사용할 수 있으며 두 개의 프로브를 사용하여 커패시터의 두 핀을 연결할 수 있으며 저항 값은 무한해야 합니다. 측정된 저항값(오른쪽으로 흔들리는 포인터)이 0이면 누설 또는 내부 고장으로 인해 커패시터가 손상되었음을 나타냅니다.
2. 10PF~001 μ 고정 커패시터 F 감지: 충전 현상이 있는지 확인하고 품질을 확인합니다. 멀티미터 선택 R × 1k 기어. 트랜지스터 2개 값은 모두 100 이상이고 침투 전류가 작아야 합니다. 복합 튜브는 3DG6과 같은 모델의 실리콘 삼극관으로 구성될 수 있습니다.
멀티미터의 빨간색과 검은색 프로브는 각각 복합 튜브의 이미터 e와 컬렉터 c에 연결됩니다. 복합 트랜지스터의 증폭 효과로 인해 측정된 커패시터의 충전 및 방전 과정이 증폭되어 멀티미터 포인터의 스윙이 증가하고 관찰이 용이해집니다.
테스트 작업 중, 특히 용량이 작은 커패시터를 측정할 때 멀티미터 포인터의 진동을 명확하게 확인하려면 테스트한 커패시터 핀을 접점 A와 B로 반복적으로 전환해야 합니다.
001 μ F 이상의 고정 커패시터의 경우 멀티미터의 R 값을 사용하여 측정할 수 있습니다. × 충전 프로세스 및 내부 단락 또는 누출에 대해 10k 기어에서 커패시터를 직접 테스트합니다. 1. 커패시터의 일반적인 결함. 콘덴서에 다음 상황 중 하나가 발견되면 즉시 전원 공급을 차단해야 합니다.
