만능계의 정전용량 품질 판단 방법 및 만능계의 정전용량 품질 측정 방법
커패시터에는 충전 특성이 있으므로 저항 범위를 사용하면 충분합니다. 먼저 저항 수준을 최고 수준으로 조정하고 값을 관찰합니다. 커패시터가 파손된 경우, 즉 커패시터가 파손되어 단락된 경우 저항은 0Ω으로 표시되어야 합니다. 나쁘지 않다면 한 값부터 무한대까지 이어야 합니다.
일반적으로 커패시터 손상에는 단락, 개방, 용량 감소의 세 가지 상태가 있습니다.
멀티미터를 사용하여 커패시터의 단락 및 개방 회로를 측정하는 것은 상대적으로 쉽고 측정 용량은 약간 더 복잡하며 측정이 그다지 정확하지 않을 수 있습니다.
측정: 포인터 멀티미터로 측정합니다. 저항 수준으로 설정합니다. 두 개의 프로브를 커패시터 핀 중 하나에 연결한 다음 두 프로브를 전환하여 커패시턴스 핀을 측정합니다. 여러 번 순환하십시오. 항상 멀티미터 포인터 스윙의 진폭을 확인하십시오. 스윙 후 천천히 원래 위치로 돌아오지 않으면 단락입니다. 포인터가 전혀 흔들리지 않으면 개방 회로입니다.
진동하고 천천히 원래 위치로 돌아오면 이 커패시터에는 단락 회로나 개방 회로가 없습니다. 용량 감소가 의심된다면 동일한 용량의 좋은 커패시터와 비교하여 발진 진폭과 복귀 진폭이 동일한지 확인해야 합니다. 동일하다면 좋은 것입니다. 스윙 진폭이 약간 달라도 상관 없습니다. 차이가 너무 크다면 파손된 것이므로 교체해야 한다는 의미입니다.
디지털 멀티미터로 측정: 기어 호출로 설정합니다. 측정 방법은 동일합니다. 단락인 경우 멀티미터에서 계속 신호음이 울립니다. 개방 회로인 경우 멀티미터는 전혀 반응하지 않습니다. 양호하면 멀티미터가 호출에서 호출 안함으로 전환됩니다. 용량이 클수록 샤우팅 시간이 길어집니다.
건조하기 쉬운 커패시터 내부에 전해질이 있습니다. 전해액이 건조된 일부 커패시터를 귀 옆에 놓고 흔들면 내부에서 종소리 같은 낮은 소리가 생성됩니다. 물론 소리가 매우 낮고 종을 치는 것만큼 명확하지도 않아 나쁘다는 뜻이기도 하다.
