멀티미터로 커패시턴스 품질을 측정하는 방법
1. 10pF 이하의 작은 커패시턴스 감지
10pF 이하 고정콘덴서의 정전용량은 너무 작기 때문에 멀티미터로 측정하여 누설, 내부단락, 절연파괴 현상이 있는 경우에만 정성적으로 확인할 수 있다.
측정할 때 멀티미터의 R×10k 블록을 선택하고 두 개의 테스트 리드를 사용하여 커패시터의 두 핀을 임의로 연결하고 저항은 무한대여야 합니다.
측정된 저항 값(포인터가 오른쪽으로 흔들림)이 0이면 커패시터가 누설 또는 내부 파손으로 인해 손상되었음을 의미합니다.
2. 10PF ~ 0.01μF의 고정 커패시터 감지
10PF ~ 0.01μF의 고정 커패시터가 충전되어 있는지 감지하고 양호 여부를 판단합니다. 멀티미터는 R×1k 기어를 선택할 수 있으며 두 삼극관의 값은 모두 100 이상이며 침투 전류는 작아야 합니다.
3DG6 및 기타 유형의 실리콘 트랜지스터를 사용하여 복합 튜브를 형성할 수 있습니다. 멀티미터의 빨간색과 검은색 테스트 리드는 복합 튜브의 이미터 e와 컬렉터 c에 각각 연결됩니다.
복합 삼극관의 증폭 효과로 인해 측정된 커패시터의 충전 및 방전 과정이 증폭되고 멀티미터 포인터의 진자가 증가하여 관찰에 편리합니다.
참고: 테스트 작업 중, 특히 작은 용량의 커패시터를 측정할 때 멀티미터의 포인터가 눈에 띄게 흔들릴 수 있도록 테스트 중인 커패시터의 핀을 터치 포인트 A와 B로 반복적으로 전환해야 합니다.
3. 0.01μF 이상의 고정 커패시턴스 감지
0.01μF 이상의 고정 커패시턴스를 감지하기 위해 멀티미터의 R×10k 블록을 사용하여 커패시터에 충전 프로세스가 있는지 여부와 내부 단락 또는 누설이 있는지, 그리고 커패시터의 용량을 직접 테스트할 수 있습니다. 커패시터는 오른쪽으로 스윙하는 포인터의 진폭에 따라 추정할 수 있습니다.
디지털 멀티미터로 커패시터의 품질을 테스트하는 단계:
1. 극성을 결정하려면 먼저 멀티미터를 100 또는 1K 옴 범위로 조정합니다. 한 극이 양극이라고 가정하고 검은색 테스트 리드를 여기에 연결하고 빨간색 테스트 리드를 다른 극에 연결합니다. 저항 값을 기록한 다음 커패시터를 방전합니다. 즉, 두 극이 접촉하게 한 다음 테스트 리드를 변경하여 저항을 측정하십시오. 저항값이 큰 검은색 테스트 리드는 커패시터의 양극에 연결됩니다.
2. 멀티미터를 옴 범위의 적절한 기어로 조정합니다. 기어 선택의 원리는 1μF 커패시터는 20K 기어를 사용하고 1-100μF 커패시터는 2K 기어를 사용하며 100μF보다 큰 커패시터는 200 기어를 사용합니다.
3. 그런 다음 멀티미터의 빨간색 펜을 사용하여 커패시터의 양극을 연결하고 검은색 펜을 커패시터의 음극에 연결합니다. 표시가 0부터 천천히 증가하다가 마지막에 오버플로 기호 1을 표시하면 커패시터가 정상입니다. 항상 0를 표시하면 커패시터가 내부적으로 단락된 것입니다. 1이 표시되면 커패시터가 내부적으로 분리된 것입니다.
