메모리 칩 테스트에 멀티미터를 사용하는 방법
마더보드와 메모리(D0-D63)에는 64개의 데이터 핀이 있습니다. 메모리의 데이터 핀을 보호하기 위해 D0-D63의 데이터 핀 64개 모두에 저항값이 다른 저항(10ohm)을 추가하여 전류를 제한합니다. 테스터의 주요 원리는 메모리 칩의 각 데이터 비트 핀을 프로그램으로 반복적으로 테스트하여 데이터 비트 핀이 파손되거나 단락되었는지 확인하고 칩의 클럭 핀과 주소 핀을 확인하는 것입니다.
따라서 멀티미터를 사용하여 칩을 테스트할 때 테스터를 사용하여 칩을 측정할 수도 있습니다. 빨간색 펜을 접지(1핀)에 연결하고 검정색 펜을 사용하여 부저항의 저항을 측정하는 한 메모리 칩 데이터 비트의 저항 값으로 어떤 칩에 결함이 있는지 판단할 수 있습니다. 일반적으로 각 데이터 비트의 저항 값은 동일합니다. 하지만 여전히 테스터만큼 직관적이지는 않으며, 이 방법을 사용하면 DDR 메모리 칩의 품질을 측정할 수 있습니다.
사용 설명서에 따르면 측정된 메모리는 2A와 2B로 단일 그룹과 이중 그룹을 의미합니다. 그런데 8 16 비트 칩이 있는데 이는 2개의 세트에 해당하고, 16 8-비트 칩도 2개의 세트에 해당합니다.
2A는 첫 번째 그룹이고, 2B는 두 번째 그룹입니다.
측정하는 동안 각 그룹의 각 칩의 데이터 핀이 주기적으로 테스트됩니다. 일반적으로 손상 없이 3-5번 테스트를 거쳤으면 좋습니다. 좋은 칩은 PASS입니다. 결함이 있는 칩은 결함이 있는 데이터 비트 핀을 표시합니다.
1. 일반적으로 칩 단락 및 PCB 보드 단락을 포함한 시동 점프 테스트를 수행할 수 없습니다. 해결책은 칩을 제거하고 좋은 PCB 보드로 교체하여 칩의 품질을 테스트하고 문제가 무엇인지 확인하는 것입니다.
2. 메모리 테스터는 SPD 칩을 테스트하지 않으며 SPD 칩은 선택 사항입니다.
3. 금손가락이 화상을 입으면 테스트할 수 없습니다. 품질을 테스트하려면 칩을 제거하고 좋은 PCB 보드로 교체해야 합니다.
