멀티미터를 사용하여 메모리 칩을 테스트하는 방법
마더보드와 메모리(D0-D63)에는 64개의 데이터 핀이 있습니다. 메모리의 데이터 핀을 보호하기 위해 D0-D63의 64개 데이터 핀에 저항값이 없는 저항(10옴)을 추가하여 전류를 제한합니다. 효과. 테스터의 주요 원리는 프로그램을 사용하여 메모리 칩의 각 데이터 비트 핀을 반복적으로 테스트하여 칩의 클럭 핀과 주소 핀뿐만 아니라 고장이나 단락된 데이터 비트 핀이 있는지 확인하는 것입니다.
따라서 멀티미터를 사용하여 칩을 테스트할 때 테스터의 방법을 사용하여 칩을 측정할 수도 있습니다. 빨간색 펜이 접지(핀 1)에 연결되어 있는 한 검정색 펜은 메모리 칩의 데이터 비트 저항값인 음극 저항의 저항값을 측정하여 어느 칩이 파손되었는지 확인합니다. , 일반적으로 각 데이터 비트 저항 값은 동일합니다. 하지만 아직은 테스터만큼 직관적이지 않습니다. 이 방법은 DDR 메모리 칩의 품질을 측정하는 데 사용할 수 있습니다.
사용설명서에 따르면 측정된 메모리는 2A, 2B로 존재하는데, 이는 단일 그룹과 이중 그룹을 의미합니다. 그러나 두 그룹에 해당하는 8 16-비트 칩이 있고, 16 8-비트 칩도 두 그룹에 해당합니다.
2A는 첫 번째 그룹이고 2B는 두 번째 그룹입니다.
측정하는 동안 각 그룹의 각 칩의 데이터 핀이 주기적으로 테스트됩니다. 일반적으로 3~5회 후에도 깨지지 않는 것이 좋습니다. 좋은 칩은 PASS입니다. 불량 칩은 불량 데이터 비트 핀을 나타냅니다.
1. 부팅 후 테스트를 수행할 수 없는 경우 일반적으로 칩 단락, PCB 보드 단락 등이 있습니다. 해결책은 칩을 제거하고 좋은 PCB 보드로 교체하여 칩이 양호한지 테스트하고 문제가 무엇인지 확인하는 것입니다.
2. 메모리 테스터는 SPD 칩을 테스트하지 않으며 SPD 칩은 선택 사항입니다.
3. 금손가락이 타면 테스트할 수 없습니다. 칩이 좋은지 나쁜지 테스트하려면 칩을 제거하고 좋은 PCB 보드에 교체해야 합니다.
