Metallographic Microscopy에서 일반적으로 사용되는 조명 기술
1. 직사광선: 빛을 물체에 직접 비추어 선명한 영상을 얻습니다. 이러한 유형의 조명은 대비가 높은 물체를 가져와야 할 때 매우 효과적입니다. 그러나 밝거나 반사되는 물체를 비추기 위해 사용하면 정반사가 발생합니다.
2. 암시야: 빛이 표면에 비스듬히 투사되고 그 결과 카메라로 이동하는 사난시가 발생하여 어두운 배경이나 시야에 밝은 점을 만듭니다. 이 조명 방식을 사용하면 물체 표면에 색상 차이가 없으면 시각 시스템을 통해 아무것도 볼 수 없습니다. 두 관찰 방법 모두 일반적으로 금속 현미경에 장착됩니다.
3. 후면 조명: 균일한 시야각을 가진 물체 후면의 빛과 카메라를 통해 물체의 측면 프로필을 볼 수 있습니다. 뒷면 조명은 종종 물체의 크기와 방향을 측정하는 데 사용됩니다.
4. 확산 조명: 강한 그림자와 같은 무지향성 부드러운 빛을 제공하는 반사 조명으로 반사율이 높은 물체에 가장 적합합니다. 이 조명 효과 때문에 우리는 이 조명을 흐린 날의 평화롭고 방향이 없는 조명에 비유합니다.
5. 동축조명 : 동축광은 수직방향으로 균일한 면광원을 형성하고 45-도 각도의 반투명 거울을 통해 광원이 대상물의 표면을 수직하향으로 비춘다. 방법. 이 유형의 광원은 반사율이 높은 평면 물체를 검사하는 데 특히 유용합니다.
신청 분야:
자동차 부품, 유압 윤활, 베어링, 엔진, 증기 터빈, 항공, 반도체, 데이터 저장, 의료 장비, 통신, 정밀 기기, 대형 산업 및 광업 장비 및 기타 산업의 마모 모니터링.
시스템 개요 공정 설계, 보다 직관적인 작동
1. 간단한 인터페이스로 원활한 작동 경험 제공
2. ISO16232, VDA19, ISO4406, ISO4407 표준을 준수하고 사용자 정의 표준 ISO 16232 측정 매개변수 지원 - 캘리퍼스 직경 정의: 입자의 두 평행 외접 직선 사이의 긴 거리.
3. 배경 보정
조명원의 불균일성으로 인해 이미지 주변에 다크 서클이 생겨 전체 이미지 품질에 영향을 줄 수 있으므로 배경 보정 기능을 사용하면 이 문제를 효과적으로 방지할 수 있습니다.
4. 자동 사진 촬영, 이미지 스티칭
스캔 과정은 자동으로 촬영되어 저장되며 진행 상황을 실시간으로 볼 수 있습니다. 사진 정보는 쉽게 조회할 수 있도록 데이터베이스에 저장됩니다. 시야 사진 브라우징 및 확인 기능을 제공합니다.
5. 통계, 수정 및 다양한 결과 표시
시스템은 자동으로 입자를 식별하고, 입자 매개변수를 자동으로 계산하고, 입자 유형을 자동으로 분석하고, 입자 수정을 지원합니다. 다양한 결과 표시 도구가 제공됩니다.
6. 금속 입자, 비금속 입자, 섬유 자동 식별
시스템은 입자를 자동으로 식별하고 비금속 입자, 금속 입자 및 섬유를 동시에 확인할 수 있습니다. 세 가지 유형의 입자를 확인하고 분류합니다. 다양한 입자의 검증된 간격 설정을 지원합니다. 세 입자의 구별 설정 사용자 지정을 지원합니다.
