스캐닝 프로브 현미경 기능 소개
스캐닝프로브현미경(Scanning Probe Microscope, SPM)은 주사터널링현미경과 주사터널링현미경에 있어서 다양한 신형 탐침현미경(원자간력현미경 AFM, 레이저힘현미경 LFM, 자력현미경 MFM 및 등)은 최근 몇 년간 분석 장비 표면의 국제적인 발전이며 광전자 공학 기술, 레이저 기술, 약한 신호 감지 기술, 정밀 기계 설계 및 처리, 자동 제어 기술, 디지털 신호 처리 기술의 포괄적인 사용입니다. , 응용 광학 기술, 컴퓨터 고속 획득 및 제어, 고해상도 그래픽 처리 기술 및 하이테크 제품의 광학, 기계 및 전기 통합에 대한 기타 현대 과학 기술 성과. 이 새로운 유형의 현미경 도구는 과거의 다양한 현미경 및 분석 장비에 비해 분명한 이점을 가지고 있습니다.
1, SPM은 매우 높은 해상도를 가지고 있습니다. 일반현미경은 물론 전자현미경으로도 접근하기 어려운 원자를 쉽게 '볼' 수 있다.
2, SPM은 실시간 실제 샘플 표면 고해상도 이미지로 실제로 원자를 볼 수 있습니다. 일부 분석 장비와 달리 샘플의 표면 구조는 간접적 또는 계산 방법을 통해 추론됩니다.
3,SPM은 편안한 환경에서 사용됩니다. 작업 환경 요구 사항이 더욱 까다로워지는 전자 현미경 및 기타 장비를 테스트하려면 샘플을 고진공 조건에 배치해야 합니다. SPM은 진공 상태뿐만 아니라 대기, 저온, 실온, 고온, 심지어 용액에서도 작동할 수 있습니다. 따라서 SPM은 다양한 작업 환경에서의 과학 실험에 적합합니다.
