공초점 현미경의 기능 소개
공초점 현미경은 주로 3D 캡처 이미징 기술을 사용합니다. 이 기술은 디지털 카메라의 핀홀에서 나오는 고강도 레이저를 통해 디지털 이미징을 구현하고 강력한 수직 심도 분해능을 갖습니다.
공초점현미경의 이미징 원리
획득된 이미지는 핀홀 디지털 카메라를 통해 초점면에서 빛을 집중시켜 캡처하고, 서로 다른 초점면에서 누적된 이미지 시퀀스를 기반으로 소프트웨어를 사용하여 완전한 3D 이미지를 편집합니다.
공초점 현미경 시스템으로 표시되는 확대된 이미지 세부 정보는 기존 광학 현미경보다 더 높습니다. 기존의 광학 현미경에는 이미지를 캡처하기 위해 감도가 낮은 CCD 카메라가 장착되어 있는 경우가 많으며, 이는 형광과 같은 낮은 광도를 감지할 수 없습니다. 대조적으로, 공초점 현미경 시스템은 매우 민감한 광전 증배관을 검출 요소로 사용합니다. 이는 약한 형광 신호에 높은 감도를 나타낼 수 있으며 여기 범위를 줄이고 광학 단면을 사용하여 배경 잡음을 제거할 수 있습니다.
동일한 대물렌즈 배율 조건에서 공초점 현미경은 더 명확하고 미세한 형태학적 세부 사항과 더 높은 측면 해상도를 갖춘 이미지를 표시합니다. 마이크로 나노 검출을 위한 강력한 도구와 마찬가지로 공초점 현미경은 백색광 간섭계와 많은 차이점이 있습니다. 이를 한 단어로 설명하면 백색광 간섭계는 "wen"이고 공초점 현미경은 "wu"입니다. 백색광은 나노미터 이하 수준의 매우 매끄러운 표면을 감지하는 데 탁월하며 정확한 감지 값을 추구합니다. 그러나 공초점 현미경은 마이크로 나노 수준에서 대략적인 윤곽선을 감지하는 데 적합합니다. 감지 해상도는 약간 떨어지지만 쉽게 관찰할 수 있도록 다채로운 트루 컬러 이미지를 제공할 수 있습니다.
VT6000 시리즈 공초점 현미경은 정밀 Z{1}} 방향 스캐닝 모듈, 3D 모델링 알고리즘 등과 결합된 공초점 기술을 기반으로 합니다. 나노미터에서 마이크로미터 수준까지 공작물의 매끄러움부터 거칠기까지, 낮은 반사율부터 높은 반사율까지, 거칠기, 평탄도, 미세 기하학적 프로파일, 곡률 등 다양한 표면 매개변수를 측정할 수 있습니다. 다양한 제품, 부품, 재료의 표면 프로파일, 표면 결함, 마모, 부식, 평탄도, 거칠기, 파상도, 기공 간격, 단차, 굽힘 변형 등 표면 형태 특성을 측정하고 분석할 수 있습니다.
