전자현미경의 종류에 대해 알아봅시다.전자현미경의 종류에 대해 알아봅시다.
전자현미경은 구조와 용도에 따라 투과전자현미경, 주사전자현미경, 반사전자현미경, 방출전자현미경으로 나눌 수 있다.
투과전자현미경은 일반 현미경으로 구별할 수 없는 미세한 물질 구조를 관찰하는 데 자주 사용됩니다. 주사 전자 현미경은 주로 고체 표면의 형태를 관찰하는 데 사용되며 X선 회절계 또는 전자 에너지 분광계와 결합하여 전자를 형성할 수도 있습니다. 마이크로프로브는 재료 구성 분석에 사용됩니다. 방출 전자 현미경은 자기 방출 전자 표면 연구에 사용됩니다.
1. 투과전자현미경
전자빔이 시료를 투과한 후 전자 렌즈를 사용하여 이미지를 생성하고 확대한 후 이름이 붙여졌습니다. 그 빛의 경로는 광학 현미경의 빛 경로와 유사하며 샘플의 투영을 직접 얻을 수 있습니다. 대물렌즈의 렌즈 시스템을 변경함으로써 대물렌즈의 초점에서 상을 직접 확대할 수 있습니다.
이것으로부터 전자 회절 이미지를 얻을 수 있습니다. 이 이미지는 샘플의 결정 구조를 분석하는 데 사용할 수 있습니다. 이러한 유형의 전자 현미경에서 이미지 세부사항의 대비는 시료의 원자에 의한 전자빔의 산란에 의해 형성됩니다. 전자는 샘플을 통해 이동해야 하므로 샘플은 매우 얇아야 합니다.
샘플의 두께는 샘플을 구성하는 원자의 원자량, 전자가 가속되는 전압, 원하는 분해능에 따라 결정됩니다. 샘플의 두께는 수 나노미터에서 수 마이크로미터까지 다양합니다.
원자량이 높을수록, 전압이 낮을수록 샘플은 더 얇아져야 합니다. 시료의 얇거나 밀도가 낮은 부분은 전자빔 산란이 적기 때문에 더 많은 전자가 대물렌즈 조리개를 통과하여 이미징에 참여하여 이미지가 더 밝게 나타납니다. 반대로 샘플의 두껍거나 밀도가 높은 부분은 이미지에서 더 어둡게 나타납니다. 샘플이 너무 두꺼운 경우
2. 주사전자현미경
주사전자현미경의 전자빔은 시료를 통과하지 않고, 시료의 작은 면적에만 전자빔을 최대한 집중시킨 후 시료를 한 줄씩 스캔합니다. 입사 전자는 2차 전자를 샘플 표면에서 여기시키게 합니다.
현미경이 관찰하는 것은 각 지점에서 흩어진 전자입니다. 샘플 옆에 배치된 섬광 결정은 이러한 2차 전자를 받아 증폭하여 브라운관의 전자빔 강도를 변조함으로써 브라운관 형광 스크린의 밝기를 변경합니다. 이미지는 표본의 표면 구조를 반영한 3차원 이미지입니다.
브라운관의 편향 코일은 샘플 표면의 전자빔과 동시에 스캐닝을 유지하므로 브라운관의 형광 스크린은 산업용 TV의 작동 원리와 유사한 샘플 표면의 지형 이미지를 표시합니다. 이러한 현미경의 전자는 샘플을 통해 전송될 필요가 없으므로 전자가 가속되는 전압은 매우 높을 필요가 없습니다.
3. 전자 디지털 현미경
일반적으로 디지털 현미경은 엄밀히 말하면 광학현미경의 범주에 속해야 합니다. 디지털현미경은 최첨단 광학현미경 기술과 첨단 광전변환 기술, LCD 스크린 기술을 완벽하게 결합해 성공적으로 개발된 첨단 제품이다. 그 결과, 기존의 일반 쌍안경 관찰부터 현미경 분야에 대한 연구를 모니터까지 재현할 수 있어 작업 효율성이 향상됩니다.
