멀티미터 - 서미스터 측정 방법
서미스터는 민감한 데이터 정보 시스템 구성 요소의 한 유형으로 양의 온도 및 상관 계수 서미스터(PTC)와 음의 온도 계수 서미스터(NTC)로 나눌 수 있습니다. 서미스터의 일반적인 구조의 주요 특징은 온도 환경의 변화에 민감하고 온도에 따라 저항 값이 다를 수 있다는 것입니다. PTC(Positive Temperature Coefficient Thermistor)는 NTC(Negative Temperature Coefficient Thermistor)의 온도가 높을수록 더 높은 온도에서 저항값을 증가시키고 저항값은 감소하는 반도체 소자에 속한다.
그러나 이에 주의해야 합니다. 재료의 내열성은 관세 85.41 반도체 전자 장치의 일부로 수입 및 수출 무역 링크의 대상이 아닙니다.
실내 환경에서 저항을 테스트 한 다음 핸들 제품 테스트를 꼬집어 저항이 작아지는지, 변화가 정상, 비정상 또는 그 반대인지 나타내는 경우.
참고: 테스트 중 측정을 정확하게 제어하려면 특수 장비를 사용해야 합니다.
열 방법은 서미스터를 테스트하는 데 사용할 수 있습니다. 멀티미터 저항 파일을 사용하여 두 리드를 두 리드에 연결한 다음 뜨거운 납땜 인두(20W일 수 있음)를 사용하여 서미스터에 연결된 서미스터(서미스터 근처)를 가열합니다. 온도가 상승할 때와 같은 PTC 서미스터의 저항에 사용되는 재료는 저항이 증가해야 합니다. NTC 유형 서미스터의 경우 온도가 점차 증가하면 저항이 감소해야 합니다. 서미스터가 가열될 때 저항이 변하지 않으면 서미스터가 손상된 것입니다.
서미스터의 양호 여부를 가열 방식으로 감지
멀티미터로 저항을 측정하는 것은 경영엔지니어에게 매우 중요한 이론적 근거가 있는 방법이며, 신입엔지니어가 탄탄한 수강생 학습을 통해 익혀야 할 부분이기도 합니다. 오늘의 멀티미터 저항 측정 지식 공유에서는 새로운 엔지니어를 위한 멀티미터 저항 측정 기술의 기본 지식, 즉 멀티미터를 사용하여 서미스터 부품의 품질을 테스트하는 방법을 공유합니다. 한번 살펴보겠습니다.
양의 온도 계수 서미스터(PTC) 감지 효과는 다음과 같습니다.
멀티미터 R & 시간을 사용한 감지; 1 블록, 두 단계의 특정 작업:
1. 정상 온도 환경 분석 및 감지(실내 공간 설계 작업 온도 데이터는 25도에 가까울 수 있음) 두 개의 테스트 리드를 PTC 서미스터의 두 핀에 접촉하여 저항 값에 영향을 미치는 실제 개발을 측정하고 공칭 저항 값과 비교하십시오. 둘 사이의 차이는 ±2Ω 이내이며 이는 정상일 수 있음을 의미합니다. 저항의 공칭 저항과 실제 저항의 차이가 너무 크면 성능이 저하되거나 손상됩니다.
2. 따뜻한 감지; 상온에서 주기적으로 테스트하여 2단계 테스트 - 가열을 측정하고 PTC 서미스터에 가까운 열원(예: 납땜 인두)을 가열하여 저항값을 모니터링하면서 멀티미터를 사용하여 온도가 상승하는지 확인하고, 그렇다면 일반 서미스터에서 설명한 것처럼 저항에 변화가 없으면 성능이 저하되어 계속 사용할 수 없음을 나타냅니다. PTC 서미스터 재료에 너무 가까이 가지 않도록 주의하거나 서미스터와 직접 접촉하여 열원을 태우지 않도록 주의하십시오.
열 재료 저항(NTC)의 음의 온도 계수 감지
1. 제어 시스템의 공칭 저항 값 Rt 측정: 멀티미터로 NTC 서미스터를 측정하는 방법은 저항 측정 방법과 동일합니다. 즉, NTC 서미스터의 공칭 저항에 따라 자유롭게 선택할 수 있습니다. . 전기 장벽은 측정된 Rt의 실제 값에 직접적인 영향을 미칠 수 있습니다. NTC 서미스터는 온도에 민감하므로 테스트 시 다음 사항에 유의해야 합니다. ARt는 주변 온도가 25도일 때 제조업체에서 측정하므로 멀티미터로 Rt를 측정할 때 테스트의 신뢰성을 보장하기 위해 온도는 25도에 가깝습니다. B 측정 오차 전류의 가열 효과를 일으키지 않도록 측정 전력은 미리 정해진 값을 초과하지 않아야 합니다. C 올바른 작동에 주의하십시오. 테스트 시 테스트 결과에 큰 영향을 미치지 않도록 서미스터 본체를 손으로 잡지 마십시오.
2. t의 온도 계수 추정: 실온 t1 ~ Rt1에서 전기 납땜 인두를 열원으로 사용하고 서미스터의 실온에 가깝게 저항 값을 측정하고 RT2는 첫 번째 저항 값을 측정하고 서미스터 RT로 온도를 측정한 다음 표면 케이스 평균 온도 t2를 계산합니다.
