디지털 멀티미터를 사용하여 커패시터의 상태를 테스트합니다.

디지털 멀티미터를 사용하여 커패시터의 상태를 테스트합니다.

1. 정전용량 범위를 이용한 직접 검출

일부 디지털 멀티미터에는 정전용량 측정 기능이 탑재되어 있으며 측정 범위는 2000p, 20n, 200n, 2μ, 20μ의 5가지 레벨로 나뉩니다. 측정 시 방전된 커패시터의 두 리드를 미터 패널의 Cx 잭에 직접 삽입할 수 있습니다. 적절한 범위를 선택한 후 표시된 데이터를 읽을 수 있습니다.

2000p 범위는 2000pF 미만의 정전용량을 갖는 커패시터를 측정하는 데 적합합니다.

20n 범위는 2000pF~20nF 사이의 정전용량을 갖는 커패시터를 측정하는 데 적합합니다.

200n 범위는 20nF~200nF 사이의 정전용량을 갖는 커패시터를 측정하는 데 적합합니다.

2μ 범위는 200nF~2μF 사이의 커패시턴스를 갖는 커패시터를 측정하는 데 사용됩니다.

20μ 범위는 2μF~20μF 사이의 정전용량을 갖는 커패시터를 측정하는 데 사용됩니다.

경험에 따르면 일부 디지털 멀티미터 모델(예: DT890B+)은 50pF 미만의 작은 - 용량 커패시터를 측정할 때 상대적으로 큰 오류가 발생하고 20pF 미만의 커패시터를 측정하는 경우 기준 값이 거의 없는 것으로 나타났습니다. 이 경우 직렬 방법을 사용하여 작은 - 값 커패시터를 측정할 수 있습니다.
방법은 다음과 같습니다. 먼저 약 220pF의 커패시터를 찾고 디지털 멀티미터를 사용하여 실제 커패시턴스 C1을 측정합니다. 그런 다음 측정할 소형 커패시터를 병렬로 연결하고 전체 정전용량 C2를 측정합니다. 둘 사이의 차이(C2 - C1)가 측정하려는 소형 커패시터의 정전 용량입니다. 이 방법은 1pF ~ 20pF 범위의 작은 - 용량 커패시터를 측정하는 데 매우 정확합니다.

2. 저항범위를 이용한 검출

실습을 통해 디지털 멀티미터를 사용하여 커패시터의 충전 과정을 관찰할 수도 있다는 것이 입증되었습니다. 실제로 이는 개별 디지털 값의 충전 전압 변화를 반영합니다. 디지털 멀티미터의 측정 속도가 초당 n회라고 가정합니다. 커패시터의 충전 과정을 관찰하는 동안 n개의 독립적이고 매초마다 연속적으로 증가하는 판독값을 볼 수 있습니다. 디지털 멀티미터의 이러한 디스플레이 특성을 기반으로 커패시터의 상태를 감지하고 커패시턴스를 추정할 수 있습니다.
다음은 디지털 멀티미터의 저항범위를 이용하여 커패시터를 검출하는 방법으로, 정전용량 범위가 없는 미터에 매우 유용하다. 이 방법은 0.1μF에서 수천 마이크로패럿에 이르는 대용량 - 용량 커패시터를 측정하는 데 적용할 수 있습니다.