오실로스코프의 역할과 적용 범위:
차동 프로브 쌍은 차동 증폭기에 일치되고 감쇠 계수가 균형을 이루어 최대 입력 신호와 공통 모드 범위가 향상됩니다. 시스템은 공장과 동일한 테스트 기능을 수행할 수 있습니다. 즉, 전력 장치 분석, 그림 2는 순간 전력 테스트를 보여줍니다. 또한 이 시스템을 사용하면 장치의 안전한 작동 영역, 동적 온저항 및 기타 관련 성능 분석을 측정할 수 있으며 이는 간단히 몇 개의 키를 누르는 것만으로 수행할 수 있습니다. 변조 분석, 그림 3은 장치의 변환 과정에서 문자 흰색의 상황을 보여줍니다. 시스템 다이어그램을 테스트하면 됩니다. 디지털 오실로스코프는 다양한 파형을 효과적으로 관찰하고 분석할 수 있을 뿐만 아니라 다양한 "아날로그 매개변수"를 표시할 수 있으며 "l"을 연결하는 적절한 외부 장비를 사용하면 부하 변화 등을 매우 쉽게 캡처할 수 있습니다. , 전력 스위칭 및 기타 중요한 회로 변환은 실제 이미지와 함께 테스트 데이터의 다양한 실시간 분석을 얻기 위해 모든 주기 및 비트의 완전한 기록을 제공합니다. 지능형 테스트는 하드웨어 회로의 지원을 통해 프로그램 소프트웨어를 사용하여 기능을 체계적이고 조화롭게 개선합니다. 사용자는 신호를 샘플링, 관찰 및 분석하기 위한 특수 메뉴와 바로 가기를 사용하여 오실로스코프를 쉽게 설정할 수 있습니다. 정확하고 정확한 측정을 보장하기 위해 차동 증폭기는 100MHz의 주파수 응답과 1 또는 10으로 설정할 수 있는 이득을 갖습니다. 오실로스코프 측면 테스트 시스템의 일부로 신호를 조정할 뿐만 아니라 성능도 향상시킵니다. 입력 임피던스 및 공통 모드 거부율. 앰프 패널은 원격 명령이나 RS232 제어를 허용합니다. 전류 프로브는 도체를 통해 흐르는 전류를 측정합니다. 시스템 분석에서는 각 펄스의 펄스 폭 값을 세로축에 표시하고, '소프트 스타트 회로'의 특성을 꾸준히 관찰하여 5-V 전원 공급 장치를 모니터링합니다. Volt to stable +5 프로세스 증폭 기능을 통해 각 게이트 드라이브 펄스를 라이닝하여 Touche 회로 장치 작동 상태 테스트를 독립적으로 관찰할 수 있으며 전원 공급 장치 설계자는 회로가 작동할 때 다양한 정보 상태를 간결하고 직관적으로 관찰할 수 있습니다. 듀티 사이클, 기간, 펄스 폭, 계단 응답 등과 같은 작동. 라인 전력 측정 및 분석: 산업용 주파수 전압과 같은 아날로그 신호의 경우 역률 및 전력 소비, 전압 및 전류 RMS는 물론 다양한 고조파 측정을 편리하게 측정할 수 있습니다.
증폭 트랙은 다른 파형을 증폭하거나 장례식을 전송하는 데 사용할 수 있습니다(예: 디지털 오실로스코프)는 즉시 에너지 파형을 표시하는 데 사용할 수 있습니다(줄 알약 심장 신성한 선택 5는 @Working 칼라 전압의 O 또는 6OH로 연소됨). 유효 비트 유효 전력 유효 전력 역률 피상 전력 역률 실시간 파형은 "실시간 파형"입니다. 그림 4: 라인 전력 테스트 및 그림 2: 순시 분석 전력 테스트 오실로스코프는 J 두 개의 계산된 전력을 사용할 수도 있습니다. 그림 5는 두 파형의 위쪽 부분을 보여줍니다. 두 파형의 위쪽 부분은 전압 파형과 전류 파형 위의 전원 공급 장치 전송 부하를 나타내며, 무선 통신 시스템의 성능이 더 강하고 전력 소비가 더 낮다는 것을 보여줍니다. 처리 엔진을 선택하기 위한 무선 설계 프로그램과 같은 휴대폰과 같이 설계자는 두 배의 주의를 기울여야 합니다. 휴대폰이 3세대 또는 심지어 4세대로 진화함에 따라 설계자는 비디오 기능과 같은 새로운 기능을 개발하기 시작했습니다.
기존의 마이크로프로세서 및 DSP 기반 무선 설계 솔루션은 충분하지 않은 반면 ACM(Adaptive Computing Machine) 장치는 무선 시스템을 설계하는 보다 효율적인 방법을 제공할 수 있습니다. RISC 마이크로프로세서 코어와 미세 적응형 구조가 일치할 수 있도록 RISC 프로세서 코어와 대규모 적응형 구조를 통합한 칩인 ACM의 초기 프로토타입이다. 일반적으로 DSP 칩의 CPE는 약 10%입니다. 이는 특정 순간에 DSP 칩의 로직 게이트 중 10%만이 실제 작업을 수행하는 데 사용되고 있음을 의미합니다. 즉, 칩의 작은 부분만이 수행되고 있음을 의미합니다. "유용한" 작업이고 나머지 칩은 보조 작업을 수행합니다.
