코팅 두께 미터가 건조 필름 두께를 측정 할 때 측정 정확도에 영향을 미치는 요인은 무엇입니까?
1. 덮개 층의 두께
측정의 불확실성은 와상 전류 두께 측정 방법의 고유 한 특성입니다. 더 얇은 덮개 층 (예 : 25 μm 미만)의 경우, 측정 불확실성은 덮개 층의 두께와 무관 한 일정한 값이며, 각 측정의 불확실성은 적어도 0. 5 μm입니다. 기기의 경우,이 불확실성은 0. 5 μm ~ 1 μm입니다. 두께가 25 μm보다 큰 두꺼운 덮개 층의 경우, 특정 비율의 두께가 필요합니다. 이 기기의 경우, 불확실성은 커버 레이어의 두께의 2%입니다.
두께가 5 μm 이상인 커버 층의 경우 두께 값은 여러 측정의 평균으로 취해야합니다.
두께가 3 μm 미만인 커버 층의 경우 필름 두께 값을 정확하게 측정 할 수 없습니다.
2.베이스 메탈의 전도도
와상 전류 두께 측정 방법의 측정 값은 염기 금속의 전도도에 의해 영향을받습니다. 금속의 전도도는 재료 조성 및 열처리와 관련이 있습니다. 측정에 대한 전도도의 영향은 기기의 제조업체와 모델에 따라 크게 다릅니다. 이 기기의 측정은 기본 금속의 전도도에 의해 최소한으로 영향을받습니다.
3. 염기 금속의 두께
각 기기는 기본 금속에 대한 임계 두께 값을 가지며, 그 이상으로 측정 된 값은 염기 금속 두께의 증가에 의해 영향을받지 않습니다. 이 임계 두께 값은 기기 프로브 시스템의 작동 주파수와 기본 금속의 전도도에 따라 다릅니다. 이 기기의 임계 두께 값은 대략 {{{0}}. 3 ~ 0.4 mm입니다.
동일한 재료와 두께의 코팅되지 않은 재료로 임계 레벨 미만의 염기 금속 두께로 샘플을 쌓는 것은 신뢰할 수 없습니다.
4. 에지 효과
에디 전류 두께 게이지는 시편의 표면 불연속에 민감합니다. 샘플의 가장자리에 너무 가까운 측정은 신뢰할 수 없습니다. 작은 영역 샘플 또는 좁은 스트립 샘플을 측정 해야하는 경우, 동일한 모양을 가진 코팅되지 않은 재료를 기판으로 사용하여 기기를 재 보정 할 수 있습니다. 이 기기의 경우 측정 영역이 150mm2 미만이거나 샘플 너비가 12mm 미만인 경우, 상응하지 않은 재료에서 기기를 재 보정해야합니다.
5. 곡률
샘플의 곡률 변화는 측정 된 값에 영향을 미칩니다. 샘플의 곡률이 작을수록 측정 된 값에 대한 영향이 커집니다. 이 기기의 경우 직경이 50mm 미만인 샘플을 측정 할 때 동일한 직경의 코팅되지 않은 재료에 대해 기기를 재 보정해야합니다.
6. 표면 거칠기
염기 금속 및 덮개 층의 표면 거칠기는 측정 된 값에 영향을 미칩니다. 다른 위치에서 여러 측정의 평균을 취하면 이러한 영향이 줄어들 수 있습니다. 염기 금속의 표면이 거칠면 코팅 전에 상응하는 금속 재료의 여러 위치에서 기기 제로 포인트를 교정해야합니다.
