도금 두께 게이지의 영향 요인에 대한 설명
a 모재의 자기 특성
자기 두께 측정은 모재의 자기 변화에 영향을 받습니다(실제 적용에서 저탄소강의 자기 변화는 약간 고려될 수 있음). 열처리 및 냉간 가공 요인의 영향을 피하기 위해 사용되어야 합니다. 표준 시트는 기기를 보정하는 데 사용됩니다. 코팅할 시험편도 교정에 사용할 수 있습니다. 그만큼
b 비금속 전기적 특성
전기 전도도는 측정에 영향을 미치며 모재의 전기 전도도는 재료 구성 및 열처리 방법과 관련이 있습니다. 기기는 시험편의 기본 금속과 동일한 속성을 가진 표준 시트를 사용하여 교정됩니다. 그만큼
c 모재 두께
모든 장비에는 기본 금속의 임계 두께가 있습니다. 이 두께 이상에서는 모재의 두께에 의해 측정이 영향을 받지 않습니다. 이 기기의 임계 두께 값은 첨부된 표 1을 참조하십시오. d 에지 효과 기기는 시험편 표면 형태의 급격한 변화에 민감합니다. 따라서 테스트 조각의 가장자리 또는 내부 모서리 근처에서 측정하는 것은 신뢰할 수 없습니다. 그만큼
전자 곡률
시험편의 곡률은 측정에 영향을 미칩니다. 이 효과는 곡률 반경이 감소함에 따라 항상 크게 증가합니다. 따라서 곡면 시험편 표면의 측정은 신뢰할 수 없습니다. 그만큼
f 시편의 변형
탐침은 소프트 커버 시편을 변형하여 이러한 시편에서 신뢰할 수 있는 데이터를 얻을 수 있습니다. 그만큼
g 표면 거칠기
모재와 코팅의 표면 거칠기는 측정에 영향을 미칩니다. 거칠기가 클수록 영향이 커집니다. 거친 표면은 체계적 오류 및 우발적 오류를 유발하며 이러한 우발적 오류를 극복하기 위해 각 측정마다 다른 위치에서 측정 횟수를 늘려야 합니다. 모재가 거친 경우 장비의 영점을 교정하기 위해 유사한 거칠기로 코팅되지 않은 모재 시험편에서 여러 위치를 취해야 합니다. 또는 모재를 부식시키지 않는 용액을 사용하여 피복층을 용해 및 제거한 다음 장비를 교정하십시오. 영. 그만큼
g 자기장
주변의 각종 전기기기에서 발생하는 강한 자기장은 자기 두께 측정 작업에 심각한 방해가 됩니다. 그만큼
h 접착성 물질
기기는 프로브와 피복층 표면 사이의 긴밀한 접촉을 방해하는 부착된 물질에 민감합니다. 따라서 부착된 물질을 제거하여 기구의 탐침이 시험편 표면에 직접 닿도록 해야 합니다. 그만큼
i 프로브 압력
프로브가 시험편에 가하는 압력의 양은 측정 판독값에 영향을 미치므로 압력을 일정하게 유지해야 합니다. 그만큼
j 프로브의 방향
프로브를 배치하는 방식은 측정에 영향을 미칩니다. 측정하는 동안 프로브는 샘플 표면에 수직으로 유지되어야 합니다.
기기 사용 시 준수해야 할 규정
