도금 두께 측정기의 와전류 측정 원리 소개
고주파 AC 신호는 프로브 코일에 전자기장을 생성하고 프로브가 도체에 가까워지면 와전류가 형성됩니다. 프로브가 전도성 기판에 가까울수록 와전류가 커지고 반사 임피던스가 커집니다. 이 피드백 동작은 프로브와 전도성 기판 사이의 거리 크기, 즉 전도성 기판의 비전도성 코팅 두께를 특징으로 합니다. 이 유형의 코팅 두께 게이지 프로브는 비강자성 금속 기판의 코팅 두께를 측정하도록 설계되었기 때문에 종종 비자성 프로브라고 합니다. 비자성 프로브는 고주파 재료를 코일 코어로 사용합니다. 자기 유도 원리와 비교할 때 주요 차이점은 코팅 두께 게이지의 프로브가 다르고 신호 주파수가 다르며 신호 크기와 스케일 관계가 다르다는 것입니다. 와전류 원리를 사용하는 코팅 두께 게이지는 항공 우주 차량, 자동차, 가전 제품, 알루미늄 합금 문 및 창 및 기타 알루미늄 표면의 페인트 및 플라스틱 코팅과 같은 원칙적으로 모든 전도성 기판의 비전도성 코팅을 측정할 수 있습니다. 제품. 및 양극 산화 필름. 코팅 물질은 일정한 전도도를 가지고 있으며 이는 보정을 통해서도 측정할 수 있지만 두 전도도의 비율은 적어도 3-5배 차이가 날 필요가 있습니다. 강철 기판도 전도체이지만 코팅 두께를 측정하는 자기 원리가 이러한 유형의 작업에 더 적합합니다.
몇 가지 요인이 코팅 두께 게이지 측정에 영향을 미칩니다. 자기법으로 측정한 두께는 베이스의 금속 특성 변화에 영향을 받습니다(실제 응용에서 저탄소강의 자기 특성 변화는 미미한 것으로 간주할 수 있음). 표준 시트는 기기를 보정하는 데 사용됩니다. 모재의 전도도는 측정에 영향을 미치며 모재의 전도도는 재료 구성 및 열처리 방법과 관련이 있습니다. 시험편의 기본 금속과 동일한 속성을 가진 표준 시트를 사용하여 기기를 보정합니다. 각 기기의 임계 두께가 이 두께보다 크면 모재의 두께에 의해 측정이 영향을 받지 않습니다. 시험편의 표면 형태의 급격한 변화에 민감하므로 시험편의 가장자리 또는 내부 모서리 근처에서 측정하는 것은 신뢰할 수 없습니다. 테스트 조각의 곡률은 곡률 반경이 감소함에 따라 크게 증가하는 측정에 영향을 미치므로 구부러진 테스트 조각 표면의 측정도 신뢰할 수 없습니다. 프로브는 연질 코팅 시편을 변형하므로 이러한 표본에서 신뢰할 수 있는 데이터를 측정할 수 있습니다. 모재 및 코팅의 표면 거칠기는 측정에 영향을 미칩니다. 거칠기가 증가함에 따라 충격이 증가하고 거친 표면은 체계적 오류 및 우발적 오류를 유발합니다. 매번 측정할 때 이러한 우발적 오류를 극복하기 위해 다른 위치에서 측정 횟수를 늘려야 합니다. 모재 위의 모재가 거친 경우에도 비슷한 조도를 가진 코팅되지 않은 모재 시험편에 여러 위치를 취하여 장비의 영점을 교정하거나 모재를 부식시키지 않는 용액을 사용하여 녹이는 것도 필요합니다. 코팅을 제거한 다음 기기를 교정합니다. 영점; 주변의 다양한 전기 장비에 의해 생성된 강한 자기장은 자기 두께 측정 작업을 심각하게 방해합니다. 프로브가 코팅 표면과 밀착되는 것을 방해하는 부착 물질은 폐기해야 합니다. 측정 중에는 압력을 일정하게 유지해야 합니다. 부품 표면이 수직으로 유지되는 경우에만 최대 측정이 가능합니다.
