디지털 멀티미터의 일반적인 결함 및 솔루션
결함 찾기는 외부에서 내부로, 쉬운 것부터 어려운 것까지, 전체를 부분으로 나누고 핵심 사항을 돌파하는 원칙을 따릅니다. 주요 방법은 다음과 같습니다.
① 감각검사 방법 인간의 감각으로 직접 결함의 원인을 판단합니다. 육안 검사를 통해 끊어진 전선, 차가운 납땜 접합부, 겹쳐진 전선으로 인한 단락, 끊어진 퓨즈, 부품의 탄화, 기계적 손상, 인쇄 회로의 구리 흔적이 들리거나 끊어지는 등을 감지할 수 있습니다. 터치하면 배터리, 저항기, 트랜지스터 및 IC의 온도 상승을 확인하고 회로도를 참조하여 비정상적인 온도 상승의 원인을 찾을 수 있습니다. 또한 구성 요소가 느슨한지, IC 핀이 단단히 삽입되었는지, 로터리 스위치가 고착되었는지 수동으로 확인하십시오. 이상한 소리를 듣고 이상한 냄새가 나는지 냄새를 맡아보세요.
② 전압 측정 방법 주요 노드의 동작 전압을 측정하고 그 값이 이상인지 검증하여 고장 지점을 신속하게 찾아냅니다.
정상입니다. 예를 들어 A/D 변환기의 공급 전압 및 기준 전압을 측정하는 것이 포함됩니다.
③ 단락 방법 이 방법은 앞서 언급한 A/D 변환기 검사 절차에 일반적으로 사용되며 약전류 및 마이크로 전자 기기 수리에 널리 적용됩니다.
④ 개방회로 방식 전체 기기 또는 단위 회로에서 의심되는 부분을 분리합니다. 오류가 사라지면 연결이 끊어진 회로 내에 오류가 있는 것입니다. 이 방법은 주로 단락이 발생하는 회로에 적용됩니다.
⑤ 부품 테스트 방법 결함이 특정 영역 또는 여러 부품으로 좁혀지면 회로 내 또는 회로 외 측정을 수행합니다. 필요한 경우 의심되는 구성 요소를 좋은 구성 요소로 교체하십시오. 결함이 사라지면 원래 구성 요소에 결함이 있는 것입니다.
⑥ 간섭 방법 인체에 유도된 전압을 간섭 신호로 이용하여 LCD의 변화를 관찰합니다. 이 방법은 입력 회로와 표시부가 제대로 작동하는지 확인하는 데 자주 사용됩니다.
