원자력 현미경에 대해 얼마나 알고 있습니까?
AFM(Atomic Force Microscopy)의 기본 원리는 샘플 표면의 원자 배열이 "오목과 오목"을 생성한다는 것입니다. 프로브가 수평 방향으로 스캔하면 바늘 끝과 샘플 표면 사이의 거리가 수직 방향으로 변경됩니다. 프로브 팁이 샘플 표면에 매우 가까울 때 원자 간 힘이 그들 사이에 생성된다는 것은 고체 물리학 이론에서 알려져 있습니다. 바늘 끝과 시료 표면 사이의 수직 거리의 변화는 바늘 끝과 시료 표면 사이의 원자 간 힘의 변화로 이어집니다. 변화하는 원자 간 힘은 캔틸레버를 수직 방향으로 진동시킵니다. 따라서 바늘 끝과 시료 표면 사이의 변화하는 원자 간 힘은 레이저 빔의 편향을 사용하여 감지할 수 있습니다. 레이저 빔의 편향 신호는 컴퓨터에 입력되어 처리되며 시료 표면의 표면 정보를 얻을 수 있습니다. 압전 재료는 샘플 표면 아래에 설치되어 컴퓨터에서 출력되는 피드백 신호를 수신하고 샘플 표면의 높이를 조정하여 프로브 팁을 보호하는 목적을 달성합니다.
원자력현미경은 원자간 힘의 이론에 기반을 두고 있기 때문에 테스트 샘플의 표면은 도체 및 반도체에서 절연체 영역까지 확장되며 측면 해상도는 0.101nm에 도달할 수 있습니다. 현재 원자력현미경의 접촉형태는 프로브팁과 시료표면의 접촉에 따라 접촉형(C형), 비접촉형(NC형), 간헐적 접촉형(IC형)으로 구분된다. ).
