멀티미터를 사용하여 메모리 칩을 테스트하는 방법
마더보드와 메모리 모듈에는 D0부터 D63까지 라벨이 붙은 64개의 데이터 핀이 있습니다. 이러한 데이터 핀을 보호하기 위해 각각은 약 10옴의 전류 제한 저항과 직렬로 연결됩니다.
메모리 테스터는 소프트웨어를 통해 메모리 칩의 각 데이터 핀을 반복적으로 테스트하여 단락되거나 손상된 데이터 핀을 감지하는 방식으로 작동합니다.
칩의 클럭과 주소 핀도 마찬가지입니다.
멀티미터에도 비슷한 방법을 사용할 수 있습니다. 빨간색 프로브를 접지(핀 1)에 놓고 검은색 프로브를 사용하여 저항 어레이의 저항을 측정합니다. 측정된 저항은 메모리 칩의 데이터 핀 저항과 일치하므로 어떤 칩에 결함이 있는지 식별할 수 있습니다. 정상적인 조건에서 모든 데이터 핀은 대략 동일한 저항을 보여야 합니다. 전용 테스터보다 직관적이지는 않지만 이 방법을 사용하면 DDR 메모리 칩의 불량 여부를 확인할 수 있습니다.
사용자 설명서에 따르면 테스트 중인 메모리의 표시 2A 및 2B는 단일 랭크 및 이중 랭크 구성을 나타냅니다.
16비트 칩은 일반적으로 8개 조각으로 구성되어 효과적으로 2개의 랭크를 형성합니다.
8비트 칩은 일반적으로 16개 조각으로 제공되며 2개의 랭크를 구성합니다.
2A는 한 등급을 나타내고, 2B는 다른 등급을 나타냅니다.
테스트하는 동안 각 랭크에 있는 모든 칩의 각 데이터 핀이 주기적으로 테스트됩니다. 칩이 3~5회 연속 테스트를 통과하면 칩이 작동하는 것으로 간주됩니다. 좋은 칩에는 "PASS"가 표시되고, 결함이 있는 칩에는 잘못된 데이터 핀 번호가 표시됩니다.
문제 해결
테스터가 전원을 켠 후 테스트를 시작하지 못하는 경우 원인은 일반적으로 칩 단락 또는 PCB 단락입니다. 이 문제를 해결하려면 칩의 납땜을 제거하고 정상 작동이 확인된 PCB에 설치하여 칩 자체에 결함이 있는지 테스트하십시오.
메모리 테스터는 SPD 칩을 테스트하지 않습니다. SPD 칩은 선택 사항입니다.
타거나 손상된 골드 핑거가 적절한 테스트를 방해합니다. 칩의 상태를 확인하려면 칩을 제거하고 양호한 PCB에 설치해야 합니다.
