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멀티 미터 만 사용하는 통합 회로 테스트 방법

Jan 30, 2025

멀티 미터 만 사용하는 통합 회로 테스트 방법

 

도로 검사가 아닙니다
이 방법은 IC가 회로에 납땜되지 않을 때 수행됩니다. 일반적으로 멀티 미터를 사용하여 각 핀과 접지 핀 사이의 전방 및 역 저항 값을 측정하고 온전한 IC와 비교할 수 있습니다.


도로 검사시
이는 DC 저항, AC/DC 전압을 접지로 감지하는 방법입니다. 이 방법은 교체 가능한 IC 및 분해 IC의 번거 로움이 필요한 치환 테스트 방법의 한계를 극복하며 IC를 탐지하는 데 일반적으로 사용되는 실용적인 방법입니다.

1. 회로 DC 저항 감지 방법에서
이것은 멀티 미터 OHM 범위를 사용하여 회로 보드에서 IC의 다양한 핀 및 주변 장치의 전방 및 역 DC 저항 값을 직접 측정하고 정상 데이터와 비교하여 결함을 감지하고 결정하는 방법입니다. 측정 할 때 다음 세 가지 점에주의하십시오.
(1) 측정하기 전에 테스트 중에 미터 및 구성 요소가 손상되지 않도록 전원 공급 장치를 분리하십시오.


(2) 멀티 미터 저항 범위의 내부 전압은 6V를 초과해서는 안되며 범위는 R × 100 또는 R × 1K로 설정 될 수 있습니다.


(3) IC 핀 매개 변수를 측정 할 때 테스트 된 모델, IC와 관련된 전위차계의 슬라이딩 암 위치 및 주변 회로 구성 요소의 품질과 같은 측정 조건에주의를 기울여야합니다.


2. DC 작동 전압 측정 방법
이는 전원 켜질 때 멀티 미터의 DC 전압 범위를 사용하여 DC 공급 전압 및 주변 성분의 작동 전압을 측정하는 방법입니다. IC의 각 핀의 DC 전압 값을지면으로 감지하고 정상 값과 비교 한 다음 오류 범위를 압축하여 손상된 구성 요소를 식별하십시오. 측정 할 때 다음 지점에 주목해야합니다.

(1) 멀티 미터는 상당한 측정 오차를 피하기 위해 테스트중인 회로의 저항보다 10 배 이상 큰 내부 저항을 가져야합니다.


(2) 일반적으로 각 전위차계를 중간 위치로 돌립니다. 텔레비전 인 경우 신호 소스는 표준 컬러 바 신호 생성기를 사용해야합니다.


(3) 프로브 또는 프로브에는 안티 슬립 측정이 장착되어 있어야합니다. 모든 순간 단락으로 IC를 쉽게 손상시킬 수 있습니다. 프로브가 슬라이딩을 방지하기 위해 다음 방법을 수행 할 수 있습니다. 자전거 밸브 코어의 섹션을 가져 와서 프로브 끝에 놓고 프로브 끝을 약 0. 5mm으로 확장하십시오. 이것은 프로브 끝과 테스트 된 지점 사이의 접촉을 잘 보장 할 수있을뿐만 아니라 미끄러짐을 효과적으로 방지 할 수 있으며, 인접한 지점에 닿으면 단락되지 않습니다.


(4) 특정 핀의 전압이 정상 값과 일치하지 않을 때, IC의 품질을 결정하기 위해 해당 핀의 전압이 IC의 정상 작동에 중대한 영향을 미치고 다른 핀의 전압 변화에 상당한 영향을 미치는지 분석해야합니다.


(5) IC 핀의 전압은 주변 성분의 영향을받습니다. 주변 성분의 누출, 단락, 개방 회로 또는 값 변화가 있거나 가변 저항이있는 전위차계가 주변 회로에 연결되면 전위차계 슬라이딩 암의 위치는 핀 전압의 변화를 유발합니다.


(6) IC의 각 핀의 전압이 정상이라면, 일반적으로 IC가 정상인 것으로 간주된다. IC의 핀 전압이 비정상적인 경우, 정상 값의 편차가 최대 인 지점에서 시작하는 주변 성분의 결함을 확인해야합니다. 결함이 없으면 IC가 손상 될 수 있습니다.

 

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