멀티 미터의 테스트 방법에 대한 소개
1. 회로 DC 저항 감지 방법
이것은 포지티브 보드에서 직접적으로 다중 미터 OHM 정지이며, 양수 및 음의 DC 저항 값의 IC 핀 및 주변 성분을 측정하고 일반 데이터와 비교하여 결함 방법을 찾고 결정합니다. 측정 할 때 다음 세 가지 점에주의하십시오.
(1) 테스트 중에 미터 및 구성 요소가 손상되지 않도록 측정하기 전에 전원 공급 장치를 분리하십시오.
(2) 멀티 미터 저항 블록의 내부 전압은 6V보다 크지 않아야하며, 범위는 바람직하게는 R × 100 또는 R × 1K 블록이어야합니다.
(3) IC 핀 매개 변수를 측정 할 때 측정 된 모델, IC 등과 관련된 전위차계의 슬라이딩 암 위치와 같은 측정 조건에주의를 기울일뿐만 아니라 주변 회로 구성 요소를 고려하십시오.
2. DC 작동 전압 측정 방법
이것은 전력의 경우 DC 공급 전압에 대한 멀티 미터 DC 전압 블록, 작동 전압 측정의 주변 성분이있는 일종의 전력입니다. IC는지면 DC 전압 값에 핀을 핀으로하고 정상 값과 비교 한 다음 문제의 범위를 압축하여 손상된 구성 요소를 찾습니다. 측정은 다음 8 점에주의를 기울여야합니다.
(1) 멀티 미터는 충분히 큰 내부 저항을 가져야하며, 테스트중인 회로의 저항보다 10 배 이상 큰 측정 오차를 유발하지 않도록해야합니다.
(2) 일반적으로 각 전위차계를 중간 위치로 돌리고 TV 세트 인 경우 신호 소스는 표준 색상 막대 신호 생성기 여야합니다.
(3) 미터 펜 또는 프로브는 슬립 방지 조치를 취해야합니다. 즉각적인 단락으로 인해 IC를 손상시키기 쉽습니다. 미터 펜 슬라이딩을 방지하기 위해 다음과 같이 할 수 있습니다. 자전거 밸브 코어의 섹션을 미터 펜 끝에 세트하고 미터 펜의 끝에서 0.
(4) 측정 된 핀 전압이 정상 값과 일치하지 않으면, 핀 전압은 IC의 정상 작동에 기반을 두어야합니다.
(5) IC 핀 전압은 주변 성분의 영향을받습니다. 말초 구성 요소 누출, 단락, 개방 회로 또는 변화 값 또는 주변 회로가 가변 저항이있는 전위차계에 연결되면 전위차계 슬라이딩 암은 다른 위치에있게되면 핀 전압이 변경됩니다.
(6) IC 핀 전압이 정상이면 IC는 일반적으로 정상으로 간주됩니다. 핀 전압의 IC 부분이 비정상적인 경우, 정상 값에서 가장 큰 편차에서 시작해야하며, 오류가 없으면 오류가 없으면 IC가 손상 될 수 있습니다.
(7) 신호의 존재 또는 부재하에 텔레비전 세트와 같은 동적 수신 장치의 경우 IC 핀 전압이 다릅니다. 큰 변화 대신 핀 전압이 변경되지 않아야한다면 신호의 크기 및 변경 대신 다른 위치 및 변경 사항을 가진 조정 가능한 구성 요소가 IC 손상을 결정할 수 있습니다.
(8) 비디오 레코더와 같은 다양한 작동 모드의 경우 다른 작동 모드에서 IC 핀 전압도 다릅니다.
3. AC 작동 전압 측정 방법
IC AC 신호의 변경 사항을 파악하려면 DB 잭이있는 멀티 미터를 사용하여 IC AC 작동 전압 측정을 근사화 할 수 있습니다. AC 전압 블록에 배치 된 멀티 미터의 검출, DB 잭에 삽입 된 포지티브 펜; DB 잭이없는 멀티 미터의 경우 {{{0}}}}. 이 방법은 텔레비전의 비디오 증폭 단계, 필드 스캐닝 회로 등과 같이 비교적 낮은 작동 주파수를 가진 IC에 적용됩니다. 이 회로의 고유 주파수로 인해 다른 파형이 다르기 때문에 측정 된 데이터는 대략적이며 참조에만 사용할 수 있습니다.
4. 총 전류 측정 방법
이 방법은 IC 전원 공급 장치의 총 전류를 라인으로 감지하여 IC가 양호하거나 나쁜 방법을 확인하는 것입니다. 대부분의 IC 내부 직접 커플 링 (Intern Direct Coupling)의 대다수가 IC 손상 (예 : PN 접합 고장 또는 개방 회로)은 후면 스테이지의 포화 및 컷오프를 유발하여 총 전류가 변경됩니다. 따라서 총 전류 방법을 측정함으로써 IC가 양호하거나 나쁜 것을 결정할 수 있습니다. 또한 총 전류 값을 계산하기 위해 OHM의 법칙을 사용하여 전원 공급 장치 경로에서 저항의 전압 강하를 측정하는 데 사용될 수 있습니다.
