금속현미경의 각 이미징 원리
1, 명시야, 암시야
명시야는 샘플을 관찰하는 가장 기본적인 유형의 현미경이며, 현미경의 시야 영역에서는 밝은 배경을 나타냅니다. 기본 원리는 광원이 대물 렌즈를 통해 시료 표면에 수직 또는 거의 수직으로 조명되면 시료 표면이 다시 대물 렌즈로 반사되어 이미지를 만드는 것입니다.
암시야 조명과 명시야는 현미경의 시야 영역에서 어두운 배경을 나타내고, 수직 또는 수직 입사에 대한 조사 방법의 밝은 시야를 나타내는 반면, 암시야 조사 방법은 주변 경사 조명 샘플 외부의 대물 렌즈를 통해 샘플을 조명하면 샘플은 빛을 산란시키거나 샘플에 의해 산란되거나 반사된 빛의 역할을 대물 렌즈로 반사하여 샘플을 만드는 역할을 합니다. 이미징. 암시야 관찰, 명시야에서는 무색의 작은 결정이나 밝은 색의 작은 섬유를 관찰하기가 쉽지 않지만, 암시야에서는 명확하게 관찰됩니다.
2, 편광, 간섭
빛은 전자기파의 일종이고, 전자기파는 횡파이므로 횡파만 편파를 가지고 있습니다. 이는 빛의 고정된 진동에서 전파 방향에 대한 전기 벡터로 정의됩니다.
빛의 편광 현상은 실험 설정을 통해 감지할 수 있습니다. 동일한 편광판 A, B 두 개를 가져와 첫 번째 편광판 A를 통해 첫 번째 자연광이 됩니다. 이때 자연광도 편광이 되지만 사람의 눈은 식별할 수 없으므로 두 번째 편광판이 필요합니다. B. 편광판 A는 고정되고, 편광판 B는 A와 동일한 레벨에 배치되고, 편광판 B를 회전시키면 B의 회전에 따라 투과된 빛의 강도가 90°마다 빛의 강도가 주기적으로 변화하는 것을 알 수 있습니다. 90도 회전할 때마다 투과되는 빛의 세기는 B가 회전하면서 주기적으로 변화합니다. 최대 빛의 세기는 가장 어두운 곳으로 점차 약해지고 90도 회전할 때 빛의 세기는 주기적으로 변합니다. 가장 어두운 것부터 가장 밝은 것까지 점차적으로 향상되므로 편광기 A를 바이어스 개시 장치라고 하고 편광기 B를 바이어스 검출기라고 합니다.
간섭이란 상호작용 영역에서 두 개의 간섭성 파동(빛)이 중첩되는 현상으로 빛의 강도가 강해지거나 약해지는 현상에 의해 발생합니다. 빛의 간섭은 크게 이중슬릿 간섭과 박막 간섭으로 나누어진다. 두 개의 독립적인 광원에 대한 이중 슬릿 간섭은 간섭성 빛이 아니며 이중 슬릿 간섭 장치는 이중 슬릿을 통과하는 광선이 두 개의 간섭성 광선으로 바뀌고 안정적인 간섭 줄무늬가 형성되어 라이트 스크린에 나타납니다. 이중 슬릿 간섭 실험에서는 라이트 스크린의 한 지점에서 이중 슬릿 거리 차이가 짝수 배의 반파장에 해당하는 밝은 줄무늬 지점; 영의 이중 슬릿 간섭에 대한 어두운 줄무늬 지점인 반파장의 홀수 배 동안 이중 슬릿 거리 차이에 대한 지점까지 밝은 화면이 나타납니다. 필름의 두 표면에 의해 반사되는 빛의 광선에 대한 박막 간섭, 반사된 빛의 두 광선의 형성 간섭 현상을 박막 간섭이라고 합니다. 박막 간섭에서는 반사광의 표면 전후에 필름의 두께에 따라 거리 차이가 결정되므로 동일한 밝은 줄무늬(어두운 줄무늬)에서 박막 간섭이 필름의 두께에 나타나야 합니다. 같은 장소. 광파의 파장은 매우 짧기 때문에 박막 간섭 시 매체 필름은 간섭 무늬를 관찰할 수 있을 만큼 충분히 얇아야 합니다.
