다양한 관찰 요구에 맞게 실체현미경 배율을 조정하는 방법
실체현미경은 전자 부품, 집적 회로, 회전 공구, 자석 및 기타 품목의 입체 검사 및 검사에 사용됩니다. 이러한 표본은 다양한 배율 조건에서 관찰되어야 하므로 이러한 요구 사항은 여러 가지 방법으로 충족될 수 있습니다. 기계적 성능; 비. 광원 조명; 기음. 광학 성능; 디. 영상관찰.
에이. 기계적 성능: 대형 회로 기판의 용접, 조립, 검사 또는 작동 거리 요구 사항과 관련된 시나리오의 경우 브래킷, 지지 프레임 및 대형 변환 스테이지와 같은 기계적 액세서리로 요구 사항을 충족할 수 있습니다. 이러한 특징을 활용하여 대형 시편도 시편을 이동하지 않고 브라켓과 스테이지에서 직접 검사할 수 있습니다. 예: A사는 상대적으로 큰 회로 기판을 경사지게 관찰해야 합니다. 회로 기판을 이동시키는 것은 어렵기 때문에 이러한 관찰 요구 사항을 충족하도록 기계적 이동을 조정하고 브래킷 방향을 조정하여 검사를 완료합니다.
비. 광원 조명: 광원 조명은 표본을 선명하게 관찰하는 데 매우 중요합니다. 조명을 선택할 때 표본 자체의 특성(밝기, 어둠, 반사와 같은 빛에 대한 요구 사항 포함)에 따라 적절한 조명 도구와 조명 모드를 선택해야 합니다. 일반 실체 현미경에 내장된 조명이 조명 요구 사항을 충족할 수 없는 경우 옵션인 LED 냉광원, 링 조명, 단일/이중 분기 광섬유 광원 등을 사용할 수 있습니다.
기음. 광학 성능: 표본의 관찰 요구 사항에 따라 적합한 접안렌즈와 대물 렌즈를 선택하여 배율과 시야를 조정합니다. 고배율을 원할 경우 접안렌즈와 대물렌즈를 고배율로 교체하십시오. 더 넓은 시야를 원할 경우 대물렌즈를 바꾸거나 배율이 낮은 접안렌즈를 사용하십시오.
디. 비디오 관찰: 광학 배율이 충분하지 않은 경우 전자 배율을 사용하여 보상할 수 있습니다. 동시 관찰과 녹화가 필요한 경우 다음과 같은 비디오 모드를 사용할 수 있습니다. 1. 모니터를 통한 직접 표시; 2. 컴퓨터에 연결(디지털 CCD 또는 아날로그 CCD 이미지 캡처 카드를 통해) 3. 디지털 카메라에 연결합니다(다른 디지털 카메라와 현미경 간의 인터페이스 호환성을 고려해야 합니다).
