멀티미터를 사용하여 메모리 칩을 측정하는 방법
마더보드와 메모리 D0~D63에는 64개의 데이터 핀이 있습니다. 메모리의 데이터 비트 핀을 보호하기 위해 64개의 데이터 비트 핀 D0~D63 전체에 저항값이 다른 저항(10옴)을 추가하여 전류를 제한합니다. 테스터의 주요 원리는 프로그램을 사용하여 메모리 칩의 각 데이터 비트 핀을 반복적으로 테스트하여 칩의 클럭 핀과 주소 핀뿐만 아니라 끊어지거나 단락된 데이터 비트 핀이 있는지 확인하는 것입니다.
따라서 멀티미터로 칩을 테스트할 때 테스터의 방법도 사용할 수 있습니다. 빨간색 펜이 접지(핀 1)에 연결되어 있고 검정색 펜이 메모리 칩 데이터 비트의 저항인 방전 저항의 저항을 측정하면 어느 칩이 파손되었는지 확인하는 데 사용할 수 있습니다. 일반적으로 각 데이터 비트의 저항은 동일합니다. 하지만 이 방법을 사용해 DDR 메모리 칩의 품질을 측정할 수 있는 테스터만큼 직관적이지는 않습니다.
사용 설명서에 따르면 측정된 메모리는 2A와 2B로 단일 그룹과 이중 그룹을 의미합니다. 하지만 두 그룹에 해당하는 8 16 비트 칩과 두 그룹에 해당하는 16 8- 비트 칩이 있습니다.
2A는 그룹 1, 2B는 그룹 2입니다.
측정하는 동안 각 그룹의 각 칩의 데이터 비트 핀이 주기적으로 테스트됩니다. 일반적으로 3~5번의 테스트 후에도 깨지지 않으면 양호한 것입니다. 좋은 칩은 PASS입니다. 결함이 있는 칩은 결함이 있는 데이터 비트 핀을 표시합니다.
1. 일반적으로 칩 단락 또는 PCB 보드 단락으로 인해 시작 중에 테스트에 들어갈 수 없습니다. 해결책은 칩을 제거하고 좋은 PCB 보드로 교체하여 칩의 품질을 테스트하고 문제가 무엇인지 확인하는 것입니다.
2. 메모리 테스터는 SPD 칩을 테스트하지 않으며 SPD 칩은 선택 사항입니다.
3. 금손가락이 화상을 입으면 테스트할 수 없습니다. 품질을 테스트하려면 칩을 제거하고 좋은 PCB 보드에서 교체해야 합니다.
