근거리 광학 현미경의 근거리 광학 현미경 원리
Traditional optical microscopes are composed of optical lenses that can magnify objects up to thousands of times to observe details. Due to the diffraction effect of light waves, it is impossible to infinitely increase the magnification because it will encounter the obstacle of the diffraction limit of light waves. The resolution of traditional optical microscopes cannot exceed half of the wavelength of light. For example, using green light with a wavelength of λ=400nm as the light source, only two objects separated by 200nm can be distinguished. In practical applications, when λ>400nm, the resolution is lower. This is because general optical observations are made at a distance (>>λ) 물체에서.
비 방사장의 검출 및 이미징 원리에 기초한 근거리 광학 현미경은 일반 광학 현미경의 회절 한계를 뚫고 초고속 광학 해상도에서 나노 스케일 광학 이미징 및 분광학 연구를 수행 할 수있다.
근거리 광학 현미경은 프로브, 신호 전송 장치, 스캐닝 제어, 신호 처리 및 신호 피드백 시스템으로 구성됩니다. 근거리 생성 및 탐지의 원리 : 사고 조명이 표면에 많은 작고 미세한 구조가 많은 물체에 비치면, 입사 광장의 작용 하에서 이러한 미세한 구조에 의해 생성 된 반사 된 파도에는 물체의 표면에 한정된 전파 파와 거리로 전파되는 파도가 포함됩니다. 과음파는 물체의 미묘한 구조 (파장보다 작은 물체)에서 나옵니다. 전파 파는 물체의 거친 구조 (파장보다 큰 물체)에서 나오며, 여기에는 물체의 미묘한 구조에 대한 정보가 포함되어 있지 않습니다. 매우 작은 산란 센터가 나노 페트 텍터 (예 : 프로브와 같은)로 사용되고 물체의 표면에 충분히 가까워지면 전파 웨이브가 흥분하여 다시 빛을 방출합니다. 이 흥분에 의해 생성 된 빛은 또한 감지 할 수없는 소멸파와 거리에서 감지 될 수있는 전파 파를 함유하여 근거리 감지 과정을 완료합니다. 전파장과 전파 필드 사이의 전환은 선형이며, 전파 필드는 소멸 필드의 변화를 정확하게 반영한다. 산란 센터가 물체 표면에 스캔되면 2 차원 이미지를 얻을 수 있습니다. 상호주의의 원리에 따르면, 조명 광원과 나노 검출기 사이의 상호 작용이 교환됩니다. 나노 광원 (Evanescent Field)이 샘플을 비추는 데 사용됩니다. 조명 필드에서 물체의 미세 구조의 산란 효과로 인해, 사전 파는 거리에서 감지 될 수있는 전파 파로 변환되며 결과는 완전히 동일합니다.
