멀티미터를 사용하여 저항기, 커패시터, 다이오드 및 양극성 접합 트랜지스터의 기능 상태 확인
1. 저항기(R)의 결함은 실제 저항값이 공칭 저항값과 일치하지 않는다는 것입니다. 따라서 멀티미터 옴을 사용하여 저항기의 품질을 측정할 수 있습니다. 일반적으로 저항기의 결함은 개방 회로(저항값이 무한한 멀티미터로 측정됨)이며, 저항기 단락의 결함은 극히 드뭅니다.
2. 커패시터(C)의 일반적인 결함은 일반적으로 두 가지 유형으로 분류할 수 있습니다. 고장(커패시터의 두 플레이트에서 어떤 이유로 발생하는 단락 및 누출(커패시터의 절연 저항이 정상보다 낮음))과 개방(커패시터의 내부 리드가 플레이트에서 분리되어 커패시터의 용량이 없음) 및 고장(커패시터의 용량이 정상보다 작음)으로 분류할 수 있습니다.
커패시터 누출 및 항복 측정: 멀티미터를 X 10K 위치로 설정하고(전해 커패시터를 측정할 때는 X 1K 위치 사용) 측정 중에 멀티미터 포인터가 먼저 R이 0인 방향으로 접지로 흔들리다가 R이 무한대가 되는 방향으로 후퇴합니다. 포인터가 안정화된 후 표시된 저항 값은 커패시터의 절연 저항입니다(전해 커패시터의 경우 멀티미터의 검정색 프로브를 전해 커패시터의 양극 단자에 연결해야 함).
실험 결과에 따르면 전해 콘덴서의 절연 저항은 일반적으로 수백 킬로옴 이상이어야 하며, 다른 콘덴서의 절연 저항은 수십 메가옴 이상이어야 합니다. 절연 저항이 위 값보다 작으면 커패시터의 누설이 사용하기에 적합하지 않음을 나타냅니다. 절연 저항이 작을수록 누출이 더 심해집니다. 절연 저항이 0이면 커패시터가 파손되었음을 나타냅니다.
3. 다이오드(D)의 주요 특징은 단방향 전도성입니다. 멀티미터는 순방향으로 특정 저항 값을 측정하고 역방향으로 무한대를 측정해야 합니다. 저항값을 반대 방향으로 측정하면 다이오드가 손상되었음을 나타냅니다.
4. 트랜지스터(Q)는 두 개의 PN 접합으로 구성되어 있으며, PN 접합의 단방향 전도성을 기준으로 베이스를 쉽게 구분할 수 있습니다. 멀티미터를 * 1KΩ 범위로 설정한 다음 트랜지스터의 한 핀을 베이스로 가정합니다. 멀티미터의 검은색 프로브를 부착하고 빨간색 프로브를 다른 두 핀에 별도로 연결합니다. 두 번 측정한 저항값이 작은 경우(순방향 저항) 빨간색 프로브를 베이스로 가정한 핀에 연결하고 검은색 프로브를 각각 높은 저항값(역방향 저항)으로 다른 두 핀에 연결한 경우 가정이 정확하며 해당 핀이 베이스입니다. 트랜지스터의 손상은 주로 개방이나 단락에 의해 발생하는데, 이 방법을 사용하면 트랜지스터의 손상 여부를 쉽게 판단할 수 있습니다.
